表面分析（微小領域分析）装置 Surface Analysis
電界放出形走査電子顕微鏡：FE-SEM-EDS/EBSD
型式：JEOL JSM-7100F / Oxford Aztec Energy-HKL
設置年：平成26年度
走査電子顕微鏡：W-SEM-EDS
型式：JEOL JSM-IT200
設置年：令和2年度
電界放出形電子プローブマイクロアナライザー：FE-EPMA
型式：JEOL JXA-8530F
設置年：平成26年度
電子プローブマイクロアナライザー：EPMA-OMT
型式：JEOL JXA-8800R
設置年：平成13年度 ※協力講座供出装置
バルク構成物分析装置 Bulk Component Analysis
デスクトップ型X線回折装置：XRD
型式：Rigaku MiniFlex600
設置年：令和2年度
バルク元素分析装置 Bulk Elemental Analysis
波長分散型蛍光X線分析装置：XRF
型式：Spectoris MagiX PRO
設置年：平成15年度 ※協力講座供出装置
誘導結合プラズマ質量分析装置：ICP-MS
型式：Thermo Electron X-Series
設置年：平成15年度 ※協力講座供出装置
同位体分析装置 Isotope-MS
マルチコレクタ―型誘導結合プラズマ質量分析装置：MC-ICP-MS
型式：Thermo Fisher NEPTUNE plus
設置年：平成26年度
表面熱電離型質量分析装置：TIMS
型式：Finnigan MAT262
設置年：平成6年度
前処理装置 Preparation equipment
炭素蒸着装置：C-coating machine
型式：JEOL JEE-420
設置年：平成26年
ガラスビード作成装置：Bead & Fuse Sampler
型式：東京科学 TK-4100
設置年：平成13年度 ※協力講座供出装置