表面分析(微小領域分析)装置 Surface Analysis
![](/wp-content/uploads/2024/05/FE_SEM-1.jpg)
電界放出形走査電子顕微鏡:FE-SEM-EDS/EBSD
型式:JEOL JSM-7100F / Oxford Aztec Energy-HKL
設置年:平成26年度
![](/wp-content/uploads/2024/05/SEM_EDS-1024x895.jpg)
走査電子顕微鏡:W-SEM-EDS
型式:JEOL JSM-IT200
設置年:令和2年度
![](/wp-content/uploads/2024/05/FE_EPMA.jpg)
電界放出形電子プローブマイクロアナライザー:FE-EPMA
型式:JEOL JXA-8530F
設置年:平成26年度
![](/wp-content/uploads/2024/05/EPMA_OMT.jpg)
電子プローブマイクロアナライザー:EPMA-OMT
型式:JEOL JXA-8800R
設置年:平成13年度 ※協力講座供出装置
バルク構成物分析装置 Bulk Component Analysis
![](/wp-content/uploads/2024/05/XRD.jpg)
デスクトップ型X線回折装置:XRD
型式:Rigaku MiniFlex600
設置年:令和2年度
バルク元素分析装置 Bulk Elemental Analysis
![](/wp-content/uploads/2024/05/XRF.jpg)
波長分散型蛍光X線分析装置:XRF
型式:Spectoris MagiX PRO
設置年:平成15年度 ※協力講座供出装置
![](/wp-content/uploads/2024/05/ICP_MS.jpg)
誘導結合プラズマ質量分析装置:ICP-MS
型式:Thermo Electron X-Series
設置年:平成15年度 ※協力講座供出装置
同位体分析装置 Isotope-MS
![](/wp-content/uploads/2024/05/MC_ICP_MS.jpg)
マルチコレクタ―型誘導結合プラズマ質量分析装置:MC-ICP-MS
型式:Thermo Fisher NEPTUNE plus
設置年:平成26年度
![](/wp-content/uploads/2024/05/TIMS.jpg)
表面熱電離型質量分析装置:TIMS
型式:Finnigan MAT262
設置年:平成6年度
前処理装置 Preparation equipment
![](/wp-content/uploads/2024/05/C_Coating2_2.jpg)
炭素蒸着装置:C-coating machine
型式:JEOL JEE-420
設置年:平成26年
![](/wp-content/uploads/2024/05/Bead.jpg)
ガラスビード作成装置:Bead & Fuse Sampler
型式:東京科学 TK-4100
設置年:平成13年度 ※協力講座供出装置